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JY新式抗干扰介质损耗测试仪简便,测量过程由微处理器控制,只要选择好合适的测量方式,数据的测量就可在微处理器控制下自动完成; 一体化机型,内附标准电容和高压电源,便于现场测试,减少现场接线。

更新时间:2019-04-11

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JY新式抗干扰介质损耗测试仪

JY新式抗干扰介质损耗测试仪JY新式抗干扰介质损耗测试仪

产品简介:

是一种先进的测量介质损耗(tgδ)和电容器容量(Cx)的仪器,用于工频高压下,测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗,(tgδ)和电容器容量(Cx)它淘汰了 QS 高压电桥。具有操作简单、中文显示、打印、使用方便、无需换算、自带高压、抗干扰能力强、测试时间(在国内同类产品中速度最快)体积小、重量轻等特点。

产品参数

准确度:   Cx:     ±(读数×1%+1pF)
tgδ: ±(读数×1%+0.00040)
抗干扰指标: 变频抗干扰,在200%干扰下仍能达到上述准确度
电容量范围: 内施高压: 3pF~60000pF/10kV    60pF~1μF/0.5kV
外施高压: 3pF~0.5μF/10kV     60pF~10μF/0.5kV
分辨率:           zui高0.001pF,4位有效数字
tgδ范围:    不限,分辨率0.001%,电容、电感、电阻三种试品自动识别。
试验电流范围:10μA~1A
内施高压:设定电压范围:0.5~10kV   电压分辨率:1V    精度:2%
zui大输出电流:200mA
升降压方式:连续平滑调节
试验频率: 45、50、55、60、65Hz单频
45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自动双变频
频率精度:±0.01Hz
外施高压:正接线时zui大试验电流1A,工频或变频40-70Hz
反接线时zui大试验电流10kV/1A,工频或变频40-70Hz
CVT自激法低压输出:输出电压3~50V,输出电流3~30A
测量时间:约36s,与测量方式有关
输入电源: 180V~270VAC,50Hz±1%,市电或发电机供电
计算机接口: 标准RS232接口

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